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esmo semicon @ SWTest 2025

Wafer-Level Testing Präzision

Vom 2. bis 4. Juni 2025 war es wieder soweit: esmo semicon nahm an der Semiconductor Wafer Test Conference (SWTest) in Carlsbad, Kalifornien, teil – einer der weltweit führenden Fachveranstaltungen, die sich ausschließlich dem Testen auf Wafer- und DIE-Ebene widmet. Die Konferenz bot mit ihrem fokussierten technischen Programm und einer hochspezialisierten Entwickler-Community die ideale Plattform, um neueste Innovationen vorzustellen und den direkten Austausch mit Fachkollegen aus aller Welt zu fördern.

Am Stand #204 präsentierten Bert Bustamante und Homan Amin vom esmo Team USA wegweisende Weiterentwicklungen in den Bereichen Handler-Technologie, Manipulatoren und Docking-/Interface-Lösungen. Diese Systeme sind auf höchste Genauigkeit, Zuverlässigkeit und Integrationsfähigkeit ausgelegt und unterstützen anspruchsvolle Testprozesse in Forschung, Entwicklung und Serienfertigung.

Technologische Highlights für aktuelle Testanforderungen

  • Handler: Unsere neuesten Modelle ermöglichen eine präzise Ausrichtung, automatisierte Abläufe im Device-Handling – für stabile, reproduzierbare Testergebnisse und den Schutz empfindlicher Komponenten.

  • Docking- und Interface-Technologie: Die Docking-Systeme von esmo stehen für mechanische Stabilität und hohe Wiederholgenauigkeit. Sie reduzieren Rüstzeiten und sorgen für zuverlässige elektrische Verbindungen mit optimaler Signalqualität.

  • Manipulatoren: Robuste Bauweise, ergonomische Handhabung und flexible Positionierung machen unsere Manipulatorlösungen ideal für unterschiedlichste DUT-Konfigurationen und schnelle Umrüstungen.

Interessierte Besucher konnten sich direkt mit unserem US-Team austauschen und sich über aktuelle Branchentrends, technische Anforderungen und individuelle Lösungskonzepte informieren.

Gemeinsam die Zukunft gestalten

Die SWTest 2025 hat einmal mehr gezeigt: Fortschritte in der Halbleiterprüfung entstehen durch technologische Exzellenz und offenen, praxisnahen Austausch. Wir bedanken uns bei allen, die unseren Stand besucht und zu spannenden Gesprächen beigetragen haben.