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direct docking
Wafer-Probing ohne Pogo-Tower
Beschreibung
- kompatibel mit verschiedensten Prober-Typen
- geeignet für verschiedenste Test-Heads und Probe-Cards
- Auswahl von Einsätzen (Inserts) für verschiedenste Test-Head-Anwendungen
- Möglichkeit des Nachrüstens/Umbaus bestehender Prober
- ausschließlich für Top-Load-Anwendungen geeignet
- vereinfachte Installation durch bloßen Prober-Head-Plate-Austausch
- Vor-Ort-Installation möglich
- Bedien-/Handling-Komfort
- clevere + kostengünstige Lösung
Download, Informationsbroschüre/Datenblatt