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test-head-attached dib-changing system
Board-Wechsel schnell + einfach, in weniger als 1 Minute
- schneller + einfacher Board-Wechsel, in weniger als einer Minute
- hocheffiziente + zeitsparende Arbeitsabläufe
- höchste Wiederholgenauigkeit durch mechanische Test-Head-/Handler-Verbindung während des Board-Wechsel-Prozesses
- kurzfristige Investitionsrendite
- ausgelegt für/spezialisiert auf Final-Test-Prozesse
- höchste Wiederholgenauigkeit durch statisch definierte Test-Head-Positionierung
- hohe Andockkraft
- Ein-Sequenz-Betrieb zum An-/Abdocken
- justierbare Andockkraft
- Kraftabschaltfunktion
- justierbarer z-Stack
- Touchpanel-Bedienung
- programmierbare Benutzeroberfläche
- individuelle, passwortgeschützte Steuerungsoptionen
- Kalt-Test-Anwendbarkeit
- Kontaktkraft vollständig kompensiert durch Verriegelungssystem
- standardmäßige/voreingestellte Board-Ausrichtung
- beständiges + robustes Design
- vereinfachter Wechsel vom Hand-Test zum Production-Mode
- kompatibel mit einer Vielzahl von Test-Head-Lösungen
- erleichterte Installation mit esmo semicon lupo cart