Die Ansprüche an Halbleiter-Testprogramme werden zunehmend komplexer. So besteht beispielsweise die Anforderung, mehrere Prüfobjekte gleichzeitig, parallel zu testen, um die Effizienz des Testers zu steigern und somit zu optimieren – eine definitiv nicht zu ignorierende Anforderung, auf die esmo semicon nun reagiert:
Mit seiner topaktuellen Multi-Site-Handling-Option, einem 2- oder 4-fachen Thermoplunger, hat esmo semicon das Optionsspektrum seines talos Device-Handling-Systems erweitert und bietet seinen Kunden nun den entscheidenden Wettbewerbsvorteil, multiple Test-Sites parallel zu kontaktieren.
Bei längeren Testzeiten, d.h. einer Minute oder mehr, generiert dies einen wesentlich höheren Durchsatz als bei üblicherweise eingesetzten Testverfahren.
Abhängig von dem jeweiligen Kontaktraster, wird entweder eine zwei- oder eine vierseitige Kontaktierung unterstützt.
Mit diesem ganz klaren Technologie-Plus kann das Device-Handling-System talos in zahlreichen Fällen konventionelle Produktionshandler ersetzen, die herkömmlicherweise für Engineering- und Kleinserien-Test-Zwecke verwendet werden.
Für die Integration der Multi-Site-Handling-Option ist keine zusätzliche Hardware erforderlich – Multi-Site-Thermoplunger sind ab sofort für alle bestehenden talos-Kunden erhältlich.
Würden Sie gerne mehr erfahren? Dann klicken Sie bitte den folgenden Link:
https://esmo-group.com/semicon/de/handling-systeme/multi-site-handling/
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