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direct docking

Wafer-Probing ohne Pogo-Tower

  • kompatibel mit verschiedensten Prober-Typen
  • geeignet für verschiedenste Test-Heads und Probe-Cards
  • Auswahl von Einsätzen (Inserts) für verschiedenste Test-Head-Anwendungen
  • Möglichkeit des Nachrüstens/Umbaus bestehender Prober
  • ausschließlich für Top-Load-Anwendungen geeignet
  • vereinfachte Installation durch bloßen Prober-Head-Plate-Austausch
  • Vor-Ort-Installation möglich
  • Bedien-/Handling-Komfort
  • clevere + kostengünstige Lösung
  • cost-effective solution