• mechanische Docking-Lösung
• hochpräzises Andocken
• Wiederholgenauigkeit
• vollumfänglich inTEST-kompatibel
• hohe Andockkraft
• kompatibel mit bestehenden Lösungen
• modulares + robustes Design
• kein(e) Kabelbruch/-verstreckung
• erleichterte Installation mit esmo semicon lupo cart

• docking + interfacing datasheet
• cam-dock datasheet

• schneller + einfacher Board-Wechsel, in weniger als einer Minute
• hocheffiziente + zeitsparende Arbeitsabläufe
• höchste Wiederholgenauigkeit durch mechanische Test-Head-/Handler-Verbindung während des Board-Wechsel-Prozesses
• kurzfristige Investitionsrendite
• ausgelegt für/spezialisiert auf Final-Test-Prozesse
• höchste Wiederholgenauigkeit durch statisch definierte Test-Head-Positionierung
• hohe Andockkraft
• Ein-Sequenz-Betrieb zum An-/Abdocken
• justierbare Andockkraft
• Kraftabschaltfunktion
• justierbarer z-Stack
• Touchpanel-Bedienung
• programmierbare Benutzeroberfläche
• individuelle, passwortgeschützte Steuerungsoptionen
• Kalt-Test-Anwendbarkeit
• Kontaktkraft vollständig kompensiert durch Verriegelungssystem
• standardmäßige/voreingestellte Board-Ausrichtung
• beständiges + robustes Design
• vereinfachter Wechsel vom Hand-Test zum Production-Mode
• kompatibel mit einer Vielzahl von Test-Head-Lösungen
• erleichterte Installation mit esmo semicon lupo cart

• docking + interfacing datasheet
• dib-changing system datasheet

• ein aus über 10 Jahren Erfahrung entstandenes Produkt(-Konzept)
• progressive, elektrische Bedienungs-/Betriebsfunktionen
• höchste Wiederholgenauigkeit
• z-Position-Teach-Funktion mit Wiederholgenauigkeit von +/- 20 µm in der z-Achse
• Wiederholgenauigkeit von +/- 25 µm in x- und y-Achsen
• bis zu 4 kN Andockkraft (bis zu 1.000 N pro Docking-Modul)
• elektrische Synchronisierung von Docking-Modulen
• Touchpanel mit z-Position-Teach-Funktionalität
• EMO auf Touchpanel
• individuelle Positionierung der einzelnen Docking-Module
• 20-mm-Einstellung des z-Positions-Bereichs
• Null-Kollisions-Risiko mit dem angedockten Board
• beständiges + robustes Design
• kosten-/zeitsparender Betrieb
• Pin-Catch-Funktion in Pre-Dock-Position
• Touchpanel-Bedienung auf dem neuesten Stand der Technik
• kompatibel mit einer Vielzahl von Test-Head-Lösungen
• kompatibel mit einer Vielzahl von Handler-/Prober-Lösungen

• docking + interfacing datasheet
• helios docking datasheet

• hohe Andockkraft (abgeleitet vom esmo-Manipulator)
• Fine-Pitch-Führung – kein Andock-Mechanismus erforderlich
• einfaches und präzises Andocken – hohe Präzision und Wiederholgenauigkeit durch statisch definierte Position
• erhältlich in Kombination mit den Manipulatoren neptune compact und pallas

• docking + interfacing datasheet

• Spezialkonstruktion für Test-Heads mit Automatik-Board
• kostengünstige Lösung einschließlich Pre-Guide, Pre-Fix oder k-Dock-Adapter
• Verriegelungsmechanismus (z.B. Teradyne FLEX-Family, Inner-Pull-Down)

• docking + interfacing datasheet

• Pre-Guide-/Pre-Fix-Set
• Führungsstifte für verschiedene Test-Heads
• voll kompatibel mit bestehenden Docking-Lösungen

• docking + interfacing datasheet

kostengünstige Lösung

• docking + interfacing datasheet