menu

cold test cover

kosten-/zeitsparender Betrieb

  • progressive Interfacing-Lösung
  • feste/dauerhafte Handler-Anbindung
  • Schutz vor Einfrieren der Kontakte
  • intuitions-orientierte Design-Neuheit
  • Einzel-Modul oder integrierte Dib-Changer-Lösung
  • universelle Tester-/Handler-Kompatibilität
  • Optionen für automatische, drucktastengestützte oder mechanische Bedienung
  • Null-Kollisions-Risiko mit dem angedockten Board
  • min. 6,71 mm z-Stack mit angebrachtem Kalt-Test-Cover
  • kosten-/zeitsparender Betrieb
  • langlebiges + stabiles Design
  • bis zu -55 °C / -67 °F Temperaturtoleranz
  • integrierte Dib-Changing-Lösungen:
    - Side-Mapping
    - Touchpanel-Bedienung
    - programmierbare Benutzerschnittstelle
    - individuelle, passwortgeschützte Steuerungsmöglichkeiten

Download, Informationsbroschüre/Datenblatt