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cold test cover
kosten-/zeitsparender Betrieb
- progressive Interfacing-Lösung
- feste/dauerhafte Handler-Anbindung
- Schutz vor Einfrieren der Kontakte
- intuitionsbasierte Design-Neuheit
- Einzel-Modul- oder integrierte Dib-Changing-Lösung
- universelle Tester-/Handler-Kompatibilität
- Kompatibilität mit Docking-Systemen von Drittanbietern wird auf Anfrage überprüft
- Optionen für automatische, drucktastengestützte oder mechanische Bedienung
- Null-Kollisions-Risiko mit dem angedockten Board
- min. 6,71 mm z-Stack mit angebrachtem Cold-Test-Cover
- kosten-/zeitsparender Betrieb
- langlebiges + stabiles Design
- bis zu -55 °C / -67 °F Temperaturtoleranz
- integrierte Dib-Changing-Lösung:
- Side-Mapping
- Touchpanel-Bedienung
- programmierbare Benutzerschnittstelle
- individuelle, passwortgeschützte Steuerungsmöglichkeiten